德国马尔 MarSurf CM expert Mahr 3D光学共聚焦测量仪
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品牌: 德国马尔
过期: 长期有效
详细信息

MarSurf CM expert
Mahr 3D光学共聚焦测量仪


高性能实验室和 QA 系统
MarSurf CM expert 是强大的可配置型共聚焦显微镜
用于表面的三维测量和分析 - 非接触
所属分类:3D光学共聚焦
关键词:Mahr 测量仪共聚焦光学测量


产品信息


高性能实验室和 QA 系统

MarSurf CM expert  有坚固的结构且对环境波动不敏感,所以适合测试实验室和生产环境中的质量保证测量。 

额外的手动 Z 定位、大 x 和 y 行程范围和能够实现自动化,使其有优异的易用性。


典型测量任务

·粗糙度测量符合

ISO 4287 & ISO 13565 / ISO 25178

·表面特征轮廓测量(包括体积、磨损、摩擦学)

·轮廓和形状 (2D, 3D)

·孔,颗粒分析

·缺陷检测



非常高数据质量

我们非常重要的标准之一,即优异的精度、准确性、可重复性、可再现性和文档记录,可保证可追溯性和可审核性。我们为客户提供的非常高服务就是提供能够可靠地用于工程、产品、工艺设计和质量控制领域的定量测量值等。


测量头
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图像采集模块 x∙y 单一测量最大测量点数量 1200 × 1200 =1.44 Mio. 1200 × 1200 =1.44 Mio. 1200 × 1200 =1.44 Mio. 1200 × 1200 =1.44 Mio.
最大分辨率下最大图像率 (Hz)1 25/(100) 25/(100) 100 / (25) 25/100
HDR 功能(16 位) 标准 标准 标准 标准
彩色图像采集 可选 可选 可选 可选
最大测量点数 量2 (Mio.) 1213 1213 1213 1213
垂直测量模块 电动定位单元 线性编码器 标准 标准 可选 可选
垂直测量范围 (mm) 70 70 100 35
精细定位模 块(压电模 块) 垂直测量范围 (µm) 350 350 350 350
x、y、z 碰撞 检测 标准 标准 可选 -
物镜支架 4 孔物镜转盘 标准 标准 可选 标准
无物镜转盘 - 可选 标准 可选

1) 应要求提供 2) 拼接测量可采集的测量点最大总数


配置 explorer expert select mobile
L 形支架 L L 龙门式 便携式
质量 (kg) 25 48 300 8.3
定位体积 x ∙ y ∙ z (mm) 50 × 50 × 70 100 × 100 × 701 200 × 200 × 100 5 50 × 50 × 35
300 × 300 × 100
x、y 线性编码器 标准 标准 可选 标准
系统控制器 集成 集成 轮式控制柜 集成
被动减振 集成 集成 标准 可选
主动减振 可选 可选 可选 可选

1) 可利用集成的手动 z 轴扩展到 150mm